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国外技术报告精读:ISO/TR 12767:几何偏差的影响

分类:ISO 技术报告 TR · 浏览 42 次 · 更新 2026-06-08 20:05:11 · 依据 ISO/TR 9464 / 12767 / 15377 / 3313 / 11583 / ASME MFC-19G

ISO/TR 12767:几何偏差的影响

节流件的几何偏差直接改变流场结构与流出系数,是最常见的偏差来源。

  • 孔板入口边缘圆弧半径超标 → C 增大
  • 孔板厚度与斜面角超差 → 流态改变
  • 喷嘴廓形偏差 → C 明显偏离
  • 喉部圆度超差 → 有效面积改变
  • 表面粗糙度超标 → 边界层改变
  • 文丘里扩散角超差 → 压损与 C 改变
  • 取压口位置偏差 → 差压测量值改变
孔板边缘磨损对 C 的影响(Hobbs & Humphreys, 1990):

  S = 550 · Δr / d      [%]

S —— 流出系数增加的百分数
Δr —— 边缘圆弧半径的增量
d —— 开孔直径

例:d=100 mm,Δr=0.05 mm → S ≈ 0.28%
ISO/TR 9464ISO/TR 12767ISO/TR 15377ISO/TR 3313ISO/TR 11583ASME
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